光學膜耐折強度測試核心是MIT耐折法與柔性動態彎折法，分別對應通用薄膜與折疊屏場景，核心指標為耐折次數、彎折半徑、光學性能衰減。

 一、核心測試方法（含標準與流程）

 1. MIT耐折度測試（通用標準，常用）

- 適用：偏光膜、增亮膜、擴散膜等常規光學膜（厚度≤0.25mm）

- 標準：ASTM D2176、ISO 5626、GB/T 457、GB/T 27728

- 原理：恒定張力下±135°往復折疊，記錄斷裂/失效前雙折次數

- 試樣：寬15mm、長150mm，縱/橫向分別測試

- 關鍵參數

  - 張力：4.9N/9.8N/14.7N（光學膜常用9.8N）

  - 折疊角度：135°（雙折）

  - 頻率：30–175次/分鐘（常規30次/分）

  - 彎折半徑：0.5–2mm（光學膜專用小半徑）

- 失效判據：膜體斷裂、出現可見折痕、透光率/霧度超標（如透光率下降≥2%）

 2. 柔性動態彎折測試（折疊屏專用）

- 適用：CPI膜、UTG、折疊保護膜、柔性顯示用光學膜

- 標準：GB/T 27728-2011《柔性顯示器件用薄膜 彎折性能測試方法》

- 原理：模擬折疊屏180°內/外彎折，循環測試并監測光學/力學性能

- 關鍵參數

  - 彎折角度：0°?180°（內折/外折）

  - 彎折半徑：0.5–3mm（越小越嚴苛）

  - 頻率：10–60次/分鐘

  - 循環次數：1萬–100萬次（gao duan≥15萬次）

- 失效判據：膜裂、分層、折痕、透光率/霧度/黃變超標

 3. 其他輔助方法

- 往復彎曲法（ISO 6238）：恒定載荷/應變控制，適合厚膜/復合膜

- 三點彎曲法：測靜態抗彎強度，評估脆性/韌性

 二、主流測試設備（按場景選型）

 1. MIT式耐折度測定儀（通用型）

- 代表機型：PY-H608型MIT式耐折度測定儀

- 核心配置

  - 無劃痕專用夾具（保護光學面）

  - 砝碼張力系統（4.9/9.8/14.7N）

  - 135°折疊頭、自動計數/停機

  - 觸屏控制、數據存儲、報表輸出

- 適用：基礎耐折壽命、質量抽檢、研發對比

 2. 柔性材料動態彎折試驗機（折疊屏專用）

- 代表機型：PY-FZ-C柔性屏彎折疲勞試驗機

- 核心配置

  - 180°內/外彎折模組、可調彎折半徑（0.5–5mm）

  - 高精度伺服控制、頻率/角度/次數可編程

  - 在線監測：透光率、霧度、電阻、裂紋檢測

  - 高低溫耦合（-40℃–85℃）、濕熱環境（85℃/85%RH）

- 適用：折疊屏光學膜、UTG、CPI膜可靠性驗證

 3. 光學性能聯用設備

- 搭配：耐折試驗機+分光光度計/霧度計

- 用途：實時測彎折后透光率、霧度、黃度指數（ΔYI）變化

 三、測試流程（標準化步驟）

1. 試樣制備：裁切15mm×150mm，去除毛邊，區分縱/橫向，每組5–10個平行樣

2. 預處理：23℃±2℃、50%RH±5%RH恒溫恒濕4h以上

3. 裝夾：無劃痕夾具夾緊，保證張力均勻、無滑移

4. 參數設置：按標準/產品要求設張力、角度、頻率、目標次數

5. 測試啟動：自動循環，記錄實時次數與性能數據

6. 失效判定：達到設定次數或出現斷裂/折痕/光學超標時停機

7. 數據處理：計算平均耐折次數、性能保留率，出具報告

 四、關鍵指標與評判標準

- 耐折次數：MIT法≥5000次；柔性彎折≥10000–150000次（視應用）

- 彎折半徑：折疊屏≤1mm；常規≤2mm

- 光學保留率：彎折后透光率≥92%、霧度≤1%、黃變ΔYI≤2.0

- 外觀：無裂紋、無分層、無久性折痕

 五、選型與應用建議

- 常規光學膜（背光/顯示）：選MIT耐折儀，按ASTM D2176/GB/T 27728測試

- 折疊屏/柔性顯示：選動態彎折試驗機，配高低溫與光學監測，按GB/T 27728執行。

- 質量控制：固定參數（如9.8N、30次/分、1萬次）做批次抽檢